在 CCD 絲印機(jī)工作過程中，出現(xiàn) “mark 間距超標(biāo)對(duì)位 NG” 的情況，主要有以下幾種原因：

　　一、設(shè)備硬件方面

　　CCD 鏡頭問題

　　CCD（電荷耦合器件）鏡頭是用于識(shí)別標(biāo)記（mark）的關(guān)鍵部件。如果鏡頭出現(xiàn)污垢、損壞或者焦距不準(zhǔn)確，就會(huì)影響對(duì) mark 的準(zhǔn)確識(shí)別。例如，鏡頭表面有灰塵或者油墨飛濺物，會(huì)遮擋部分光線，導(dǎo)致圖像采集不完整，使得識(shí)別出的 mark 位置出現(xiàn)偏差。

　　鏡頭的焦距如果沒有調(diào)整好，就像人的眼睛近視或遠(yuǎn)視一樣，無法清晰地捕捉到正確的 mark 位置，從而導(dǎo)致計(jì)算出的間距出現(xiàn)錯(cuò)誤。

　　機(jī)械傳動(dòng)部件故障

　　絲印機(jī)的傳送平臺(tái)在運(yùn)動(dòng)過程中，如果傳動(dòng)皮帶松動(dòng)、磨損或者電機(jī)出現(xiàn)故障，會(huì)導(dǎo)致平臺(tái)移動(dòng)精度下降。比如，皮帶松動(dòng)會(huì)使平臺(tái)在傳送基板（印有 mark 的物體）時(shí)產(chǎn)生抖動(dòng)或者位移偏差。當(dāng)這種偏差積累起來，就會(huì)造成 mark 間距超出標(biāo)準(zhǔn)范圍。

　　機(jī)械結(jié)構(gòu)中的絲桿等部件如果出現(xiàn)磨損，也會(huì)影響平臺(tái)的定位精度。在高精度的絲印作業(yè)中，即使是微小的機(jī)械磨損，都可能導(dǎo)致對(duì)位不準(zhǔn)確。

　　光源問題

　　合適的光源對(duì)于 CCD 準(zhǔn)確識(shí)別 mark 至關(guān)重要。如果光源亮度不均勻或者強(qiáng)度不足，會(huì)使得 mark 的成像質(zhì)量下降。例如，當(dāng)光源一側(cè)亮一側(cè)暗時(shí)，mark 在暗區(qū)的細(xì)節(jié)可能無法被 CCD 清晰識(shí)別，從而影響對(duì) mark 位置和間距的判斷。

　　二、軟件和參數(shù)設(shè)置方面

　　圖像處理算法錯(cuò)誤

　　CCD 絲印機(jī)中的軟件負(fù)責(zé)對(duì)采集到的圖像進(jìn)行處理和分析。如果圖像處理算法存在漏洞或者錯(cuò)誤，可能會(huì)錯(cuò)誤地識(shí)別 mark 的邊緣或者中 心位置。比如，算法在處理復(fù)雜背景下的 mark 時(shí)，可能會(huì)將背景中的某些圖案誤判為 mark 的一部分，從而計(jì)算出錯(cuò)誤的間距。

　　參數(shù)設(shè)置不當(dāng)

　　絲印機(jī)的工作參數(shù)包括 mark 尺寸、間距標(biāo)準(zhǔn)值、識(shí)別精度等。如果這些參數(shù)設(shè)置錯(cuò)誤，例如將間距標(biāo)準(zhǔn)值設(shè)置得過小或者過大，就會(huì)導(dǎo)致系統(tǒng)錯(cuò)誤地判定 mark 間距超標(biāo)。而且，識(shí)別精度設(shè)置過低，可能無法準(zhǔn)確捕捉 mark 的細(xì)微位置變化，也會(huì)出現(xiàn)對(duì)位 NG 的情況。

　　三、工作環(huán)境和材料方面

　　工作環(huán)境震動(dòng)

　　如果絲印機(jī)放置在有震動(dòng)源的附近，如大型沖壓設(shè)備或者交通要道旁邊，機(jī)器在工作過程中會(huì)受到震動(dòng)干擾。這種震動(dòng)會(huì)使機(jī)器的各個(gè)部件發(fā)生微小位移，進(jìn)而影響 mark 的對(duì)位精度。

　　基板材料問題

　　基板的平整度和材質(zhì)特性也會(huì)對(duì) mark 的識(shí)別產(chǎn)生影響。如果基板不平整，會(huì)使 mark 在平面上的實(shí)際位置發(fā)生變化。而且，有些基板材料的表面反射率或者顏色可能會(huì)干擾 CCD 的識(shí)別，導(dǎo)致對(duì) mark 間距的判斷失誤。